Etude Par Microscopie Électronique Haute Résolution D'hétérostructures de Semiconducteurs II-VI Épitaxiées Par Jets Moléculaires
Author | : Pierre-Henri Jouneau |
Publisher | : |
Total Pages | : 202 |
Release | : 1993 |
ISBN-10 | : OCLC:489848867 |
ISBN-13 | : |
Rating | : 4/5 (67 Downloads) |
Book excerpt: NOUS PRESENTONS UNE ETUDE D'HETEROSTRUCTURES DE SEMICONDUCTEURS II-VI FABRIQUEES PAR EPITAXIE PAR JETS MOLECULAIRES. L'OUTIL PRINCIPAL D'INVESTIGATION EST LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE HAUTE RESOLUTION, DONT LES RESULTATS SONT CORRELES A CEUX D'AUTRES TECHNIQUES DE CARACTERISATION: DIFFRACTION X, SPECTROSCOPIE OPTIQUE, CATHODOLUMINESCENCE, CANALISATION D'IONS. TROIS THEMES COMPLEMENTAIRES SONT ABORDES DANS CE MEMOIRE: LA MISE AU POINT DE LA CROISSANCE ET LA CARACTERISATION DES HETEROSTRUCTURES CDMNTE/CDTE; LA CARACTERISATION DE LA MORPHOLOGIE DES INTERFACES CDTE/ZNTE ET CDTE/MNTE A L'ECHELLE ATOMIQUE; L'ETUDE DE L'IMPLANTATION IONIQUE QUI PERMET UN MELANGE INTENTIONNEL ET CONTROLE DES INTERFACES